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主办：上海交通大学
ISSN 1006-2467 CN 31-1466/U
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Journal of Shanghai Jiao Tong University
17, Jun. 2025
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Design for Silicon Debug of Integrated Circuit by Reusing Test Logic
ZHANG Ming, GAO Jun, ZHANG Min-Xuan
Journal of Shanghai Jiaotong University . 2013, (
01
): 55 -59 .
