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ISSN 1006-2467 CN 31-1466/U
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Journal of Shanghai Jiao Tong University
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Degradation Modeling of Capacitors Based on Time Series Analysis
ZHANG Tian,PAN Ershun
Journal of Shanghai Jiaotong University . 2019, (
11
): 1316 -1325 . DOI: 10.16183/j.cnki.jsjtu.2019.11.007
