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摘要: 膜面张力是膜结构施工和使用阶段核心的参数。但是,膜面张力测量长期缺少有效工程应用方法,是该领域的一个瓶颈问题。本文基于静力荷载位移法原理,研发了一种主动吸附顶推张力平衡薄膜张力计。薄膜张力计使用吸盘吸附膜面构建法向约束边界的圆形膜面,顶推膜面中心,测量顶推力与膜面变形,计算得到薄膜的双向张力。同时实现了张力计测量、数据采集和传输的自动化控制,远程遥控和数据传输。本文给出了薄膜张力计张力测量的标定公式,并对P类、G类、E类膜材进行了标定试验,得到了相应的拟合参数。对P类、G类类膜材进行了张力测量校验,在膜结构工程合理的双向张力范围1.5~6.0 kN/m,应力比范围为1:1~1:4的张力测量中薄膜张力计最大误差小于10%,具有较高的测量精度,可满足实际工程用途。
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