基于概率稀疏自注意力的IGBT模块剩余寿命跨工况预测 |
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| 钟智伟, 王誉翔, 黄亦翔, 肖登宇, 夏鹏程, 刘成良 | ||||||||||||||||||||||||
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Remaining Useful Life Prediction of IGBT Modules Across Working Conditions Based on ProbSparse Self-Attention |
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| ZHONG Zhiwei, WANG Yuxiang, HUANG Yixiang, XIAO Dengyu, XIA Pengcheng, LIU Chengliang | ||||||||||||||||||||||||
| 表1 老化试验工况及结果 |
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| Tab.1 Aging test conditions and results |
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