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主办:上海交通大学
ISSN 1006-2467 CN 31-1466/U
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上海交通大学学报
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基于时间序列分析的电容器退化模型
张田,潘尔顺
Degradation Modeling of Capacitors Based on Time Series Analysis
ZHANG Tian,PAN Ershun
上海交通大学学报 . 2019, (
11
): 1316 -1325 . DOI: 10.16183/j.cnki.jsjtu.2019.11.007