基于复用测试逻辑方法的集成电路硅调试设计方案

主管：中华人民共和国教育部
主办：上海交通大学
ISSN 1006-2467 CN 31-1466/U

基于复用测试逻辑方法的集成电路硅调试设计方案

张明, 高军, 张民选

Design for Silicon Debug of Integrated Circuit by Reusing Test Logic

ZHANG Ming, GAO Jun, ZHANG Min-Xuan

上海交通大学学报 . 2013, (01): 55 -59 .