上海交通大学学报
基于复用测试逻辑方法的集成电路硅调试设计方案
张明, 高军, 张民选
Design for Silicon Debug of Integrated Circuit by Reusing Test Logic
ZHANG Ming, GAO Jun, ZHANG Min-Xuan
上海交通大学学报（自然版） . 2013, (01): 55 -59 .